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ALNAIR硅晶圆厚度传感器 货期短

ALNAIR硅晶圆厚度传感器 货期短

产品参数测量对象:硅片可测厚度:10~500(n=3.5)μm光源:波长扫描激光源(1515~1585)nm光输出功率:0.6,激光等级1mW引导光源:红色LD,激光等级1M

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    天津 和平区
品牌: ALNAIR 型号:SIT-200传感器类型: 硅晶圆厚度传感器
电源电压:1特性:1工作温度:1
输出类型:1安装类型:1精度:1
系列:1分辨率:1最小包装数:1
物料编号:1响应时间:1侵入防护等级:1
线性范围:1种类: 硅晶圆厚度传感器

天津瑞利光电科技有限公司优势经销日本ALNAIR硅晶圆厚度传感器

? 品牌名称:ALNAIR

? 规格型号:SIT-200


产品介绍

用于硅晶片的全光学非接触式厚度传感器

高动态范围,能够测量混乱的表面

能够在湿蚀刻过程中进行原位测量

SIT-200使用高速扫频可调激光器(而不是宽带光源)来探测被测晶片。这样就可以对每个波长进行更高功率的测量,从而实现高动态范围。即使在未抛光的晶片上,例如在湿蚀刻期间/之后,也可以进行厚度测量。硅晶圆厚度传感器由准确调谐的波长扫描激光源,聚焦传感器和光接收器(PD)构成。波长扫描光聚焦在目标上,并且在通过传感器后,PD会检测到从目标表面反射回来的干涉图样。

产品参数

测量对象:硅片

可测厚度:10~500(n = 3.5)μm

光源:波长扫描激光源

(1515~1585)nm

光输出功率:0.6,激光等级1 mW

引导光源:红色LD,激光等级1M

测量时间:min.20 ms

重复性:小于0.1(3σ)μm

监控输出:干扰信号(电气)

PC接口:以太网

电源:AC 100-240(50/60 Hz)V

尺寸(宽x高x深):364 x 147 x 391 mm

重量:9.0 kg

 


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